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原创 cpu设计之浮点运算单元--浮点乘法运算（乘积）

浮点乘法分为两个部分，部分积，部分积累加和乘加，这一节主要讲部分积的运算以及部分积的累加。要做好乘法器非常重要的一点是理解浮点数相乘的推导公式。胡伟武的体系结构这本书上讲的比较详细，建议阅读。这里我就不推导了。Booth算法与乘法器的一般结构乘法器工作的基本原理是首先生成部分积。再将这些部分积相加得到乘积。在眼下的乘法器设计中，基4Booth算法是部分积生成过程中普遍採用的算法。...

2018-12-23 21:11:06 4017

原创 cpu设计之浮点运算单元--浮点加法运算

cpu中的运算单元包括：存储执行，整形执行，浮点执行三个单元，其中浮点运算国内以前做的特别少，原因主要有2个，一是国内对精度的要求并没有那么高，二是浮点运算单元有点难度。今天在这里主要介绍一下浮点加法运算的过程（浮点运算单元最难的三个模块就是浮点加法，浮点乘法，除法运算）。首先国内外现在用的浮点的格式全部都是IEEE754标准，单精度32位，双精度64位，真...

2018-12-16 21:25:19 3972 2

原创 5. DFT进阶——ATPG delay testing

ATPG过程首先会进行DRC check ，其中clock rulechecking 是比较重要的。这是clock to d 问题，可以看出clk即作为时钟，也作为数据输入，当时钟的有效沿来的时候，数据如果发生跳变，这会工具不知道该采前面的值还是后面的值 ATPG setting Dealy testing 有两种方法1. single c...

2018-07-01 22:30:53 3000

原创 4. DFT进阶——ATPG

ATPG automatic test pattern generation1. physical defects short and open drc escape 具有多样性等特点不好测试，所以学术界提出了fault model 概念，具体作用有 test generation fault simulationquality prediction ...

2018-06-30 17:20:39 21973 4

原创 3. DFT 入门篇-scan chain—design rule check set/reset问题

做SCAN过程中需要考虑的问题上一节讲到如果要进行SCAN rule check 时出现 set/reset情况该如何处理例子：复位信号不统一，做scan 会出现问题这是用图直观的说明可能会出现的问题两种方法一种是改设计，一种是用工具autofix，这里是用的工具自动修复Tcl 中加入下面一些约束：注意active_state...

2018-06-30 00:12:28 6351

原创 2. DFT 入门篇-scan chain—design rule check

这是一个简单的脚本，读design （综合后），读library ，加时钟design check 开始做scan 写两个文件给ATPG用 2.问题来了如果design里面既有 posedeg clk 又有negedge clk ，那么该如何做scan ，使用上面的脚本还行吗实际上当然不行，那么该怎么改tcl 这是design ，...

2018-06-25 00:06:58 8550

原创 1. DFT 入门篇-scan chain

DFT -- design for test 三要素：辅助性设计， physical defects 结构性测试向量是一种辅助性设计，利用这种辅助性设计对根据 physical defects 建立的 fault model 进行求解产生的结构性测试向量，这些结构性测试向量用于检测制造出来芯片的能否正常工作。 scan chain 包含两个步骤：...

2018-06-21 01:16:30 20895 1

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